Reflejos en termografía infrarroja. Nuevo método para la estimación de la emisividad de superficies con acabado especular
Author
Royo Pastor, RafaelRealizado en/con
Universidad Politécnica de CartagenaPublication date
2015Publisher
Universidad Politécnica de CartagenaBibliographic Citation
Royo Pastor, Rafael. Reflejos en termografía infrarroja. Nuevo método para la estimación de la emisividad de superficies con acabado especular. En: IX Congreso Nacional de Ingeniería Termodinámica: libro de actas. Cartagena: Universidad Politécnica de Cartagena, Servicio de Documentación, 2015. Pp. 679-686. ISBN: 978-84-606-8931-7Keywords
Termografía infrarrojaSuperficies especulares
Emisividad
Abstract
Existe mucha confusión sobre el concepto de reflectividad. Es normal suponer que las superficies con
reflejo especular tienen una reflectividad alta, y por tanto las que no se comportan como espejo, baja.
El objetivo de este trabajo es mostrar de forma práctica que es muy común la existencia de superficies
con baja reflectividad pero con reflejo especular, y compararlo con el comportamiento de superficies
especulares de alta reflectividad. Por otra parte, se demuestra que es posible medir temperaturas sobre
superficies especulares, incluso aunque aparezcan “falsos puntos calientes”. Finalmente se propone un
método para determinar la emisividad de superficies especulares con baja emisividad, hasta valores
incluso inferiores a 0.1.
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