Evaluación precisa de iris en cavidades resonantes en guía de onda y aplicación a la caracterización dieléctrica de materiales
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Clemente Fernández, Francisco Javier; Monzó Cabrera, Juan; Pedreño Molina, Juan Luis; Lozano Guerrero, Antonio José; Díaz Morcillo, Alejandro BenedictoGrupo de investigación
Grupo de Electromagnetismo y materia (GEM)Patrocinadores
Asociación de Jóvenes Investigadores de Cartagena, (AJICT). Universidad Politécnica de Cartagena. Escuela Técnica Superior de Ingeniería Industrial UPCT, (ETSII). Escuela Técnica Superior de Ingeniería Agronómica, (ETSIA), Escuela Técnica Superior de Ingeniería de Telecomunicación (ETSIT). Cátedra Bancaja Jóvenes Emprendedores. Hero. Parque Tecnológico de Fuente Álamo. Grupo Aquiline.Fecha de publicación
2009-05-22Editorial
Universidad Politécnica de CartagenaCita bibliográfica
CLEMENTE FERNÁNDEZ, Francisco Javier et al. Evaluación precisa de iris en cavidades resonantes en guía de onda y aplicación a la caracterización dieléctrica de materiales. En II Jornadas de introducción a la investigación de la UPCT, mayo 2009, nº 2, 42-44 p. ISSN: 1888-8356Palabras clave
Guía de ondaIris
Simulador electromagnético
CST Microwave Tool Company
Resumen
En este trabajo se presenta un procedimiento de caracterización dieléctrica de materiales basado en un método inverso aplicado a una cavidad resonante en guía de onda con un iris metálico a su entrada. Se hace especial hincapié en la caraterización precisa de dicho iris, con el objetivo de poder emplear técnicas usuales de concatenación de cuadrípolos que simplifiquen el procedimiento
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