TY - JOUR 
A1 - Bermúdez Olivares, María Dolores
AU - Vázquez, G.
T1 - Caracterización de dispositivos de lámina delgada mediante microscopía óptica, electrónica de barrido y microanálisis
Y1 - 2006
SN - 1698-2924
UR - http://hdl.handle.net/10317/392
AB - En este trabajo se presentan los resultados de la aplicación de las técnicas de microscopía óptica y electrónica de barrido (SEM), así como de microanálisis para la caracterización de dispositivos optoelectrónicos de lámina delgada.
KW - Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica
KW - Microscopía óptica
KW - Electrónica de barrido
KW - Microanálisis
LA - spa
PB - Escuela Técnica Superior de Ingeniería de Telecomunicación
ER -