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Caracterización de dispositivos de lámina delgada mediante microscopía óptica, electrónica de barrido y microanálisis
dc.contributor.author | Bermúdez Olivares, María Dolores | |
dc.contributor.author | Vázquez, G. | |
dc.date.accessioned | 2008-07-22T10:32:39Z | |
dc.date.available | 2008-07-22T10:32:39Z | |
dc.date.issued | 2006 | |
dc.identifier.issn | 1698-2924 | |
dc.description.abstract | En este trabajo se presentan los resultados de la aplicación de las técnicas de microscopía óptica y electrónica de barrido (SEM), así como de microanálisis para la caracterización de dispositivos optoelectrónicos de lámina delgada. | es |
dc.format | application/pdf | |
dc.language.iso | spa | es |
dc.publisher | Escuela Técnica Superior de Ingeniería de Telecomunicación | es |
dc.rights | Atribución-NoComercial-SinDerivadas 3.0 España | * |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ | * |
dc.title | Caracterización de dispositivos de lámina delgada mediante microscopía óptica, electrónica de barrido y microanálisis | es |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article | es |
dc.subject.other | Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica | es |
dc.subject | Microscopía óptica | es |
dc.subject | Electrónica de barrido | es |
dc.subject | Microanálisis | es |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10317/392 | |
dc.rights.accessRights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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