Caracterización de dispositivos de lámina delgada mediante microscopía óptica, electrónica de barrido y microanálisis

dc.contributor.author	Bermúdez Olivares, María Dolores
dc.contributor.author	Vázquez, G.
dc.date.accessioned	2008-07-22T10:32:39Z
dc.date.available	2008-07-22T10:32:39Z
dc.date.issued	2006
dc.identifier.issn	1698-2924
dc.description.abstract	En este trabajo se presentan los resultados de la aplicación de las técnicas de microscopía óptica y electrónica de barrido (SEM), así como de microanálisis para la caracterización de dispositivos optoelectrónicos de lámina delgada.	es
dc.format	application/pdf
dc.language.iso	spa	es
dc.publisher	Escuela Técnica Superior de Ingeniería de Telecomunicación	es
dc.rights	Atribución-NoComercial-SinDerivadas 3.0 España	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/	*
dc.title	Caracterización de dispositivos de lámina delgada mediante microscopía óptica, electrónica de barrido y microanálisis	es
dc.type	info:eu-repo/semantics/article	es
dc.subject.other	Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica	es
dc.subject	Microscopía óptica	es
dc.subject	Electrónica de barrido	es
dc.subject	Microanálisis	es
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10317/392
dc.rights.accessRights	info:eu-repo/semantics/openAccess

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