%0 Journal Article 
%A Bermúdez Olivares, María Dolores
%A Vázquez, G.
%T Caracterización de dispositivos de lámina delgada mediante microscopía óptica, electrónica de barrido y microanálisis
%D 2006
%@ 1698-2924
%U http://hdl.handle.net/10317/392
%X En este trabajo se presentan los resultados de la aplicación de las técnicas de microscopía óptica y electrónica de barrido (SEM), así como de microanálisis para la caracterización de dispositivos optoelectrónicos de lámina delgada.
%K Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica
%K Microscopía óptica
%K Electrónica de barrido
%K Microanálisis
%~ GOEDOC, SUB GOETTINGEN