TY - JOUR A1 - Hinojosa Jiménez, Juan AU - Martínez Viviente, Félix Lorenzo AU - Álvarez Melcón , Alejandro T1 - Sistema y método para caracterización electromagnética de materiales. Y1 - 2017 UR - http://hdl.handle.net/10317/8536 AB - El sistema tiene: un primer sensor (S1) aplicado a un material desconocido (M); un equipo de medidas (EM); una primera guía de transmisión (G1) conectando el primer sensor (S1) con el equipo de medidas (EM); una primera transición (T1) para realizar una conexión entre el primer sensor (S1) y la primera guía de transmisión (G1); una segunda transición (T2) para realizar una conexión entre la primera guía de transmisión (G1) y el equipo de medidas (EM). El método incluye acondicionar el material desconocido (M). El acondicionamiento puede incluir: el material desconocido (M); el material desconocido (M) depositado sobre un material conocido (Mc); el material desconocido (M) depositado sobre un material conductor (Mcond); el material desconocido (M) depositado sobre dos capas que tienen un material conocido (Mc) y un material conductor (Mcond); un material conocido (Mc) depositado sobre dos capas que tienen el material desconocido (M) y un material conductor (Mcond). KW - Teoría de la Señal y las Comunicaciones KW - Caracterización Electromagnética de Materiales KW - Sensor en línea microstrip KW - Sensor en línea coplanar KW - 3325 Tecnología de las Telecomunicaciones LA - spa PB - Oficina Española de Patentes y Marcas (OEPM) ER -