Sistema y método para caracterización electromagnética de materiales.
Identifiers
URI: http://hdl.handle.net/10317/8536CIP: G01R27/06 (2006.01)
CIP: G01N22/00 (2006.01)
CIP: G01N27/02 (2006.01)
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Universidad Politécnica de CartagenaKnowledge Area
Teoría de la Señal y las ComunicacionesPublication date
2017-05-09Publisher
Oficina Española de Patentes y Marcas (OEPM)Keywords
Caracterización Electromagnética de MaterialesSensor en línea microstrip
Sensor en línea coplanar
Description
Número de publicación: 2 611 553 Número de solicitud: 201630964
Abstract
El sistema tiene: un primer sensor (S1) aplicado a un material
desconocido (M); un equipo de medidas (EM); una primera
guía de transmisión (G1) conectando el primer sensor (S1)
con el equipo de medidas (EM); una primera transición (T1)
para realizar una conexión entre el primer sensor (S1) y la
primera guía de transmisión (G1); una segunda transición
(T2) para realizar una conexión entre la primera guía de
transmisión (G1) y el equipo de medidas (EM). El método
incluye acondicionar el material desconocido (M). El
acondicionamiento puede incluir: el material desconocido (M);
el material desconocido (M) depositado sobre un material
conocido (Mc); el material desconocido (M) depositado sobre
un material conductor (Mcond); el material desconocido (M)
depositado sobre dos capas que tienen un material conocido
(Mc) y un material conductor (Mcond); un material conocido
(Mc) depositado sobre dos capas que tienen el material
desconocido (M) y un material conductor (Mcond).
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- Patentes [77]
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