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dc.contributor.authorClemente Fernández, Francisco Javier 
dc.contributor.authorMonzó Cabrera, Juan 
dc.contributor.authorPedreño Molina, Juan Luis 
dc.contributor.authorLozano Guerrero, Antonio José 
dc.contributor.authorDíaz Morcillo, Alejandro Benedicto 
dc.date.accessioned2012-04-20T11:34:45Z
dc.date.available2012-04-20T11:34:45Z
dc.date.issued2009-05-22
dc.identifier.citationCLEMENTE FERNÁNDEZ, Francisco Javier et al. Evaluación precisa de iris en cavidades resonantes en guía de onda y aplicación a la caracterización dieléctrica de materiales. En II Jornadas de introducción a la investigación de la UPCT, mayo 2009, nº 2, 42-44 p. ISSN: 1888-8356eng
dc.identifier.issn1888-8356
dc.description.abstractEn este trabajo se presenta un procedimiento de caracterización dieléctrica de materiales basado en un método inverso aplicado a una cavidad resonante en guía de onda con un iris metálico a su entrada. Se hace especial hincapié en la caraterización precisa de dicho iris, con el objetivo de poder emplear técnicas usuales de concatenación de cuadrípolos que simplifiquen el procedimientoeng
dc.description.sponsorshipAsociación de Jóvenes Investigadores de Cartagena, (AJICT). Universidad Politécnica de Cartagena. Escuela Técnica Superior de Ingeniería Industrial UPCT, (ETSII). Escuela Técnica Superior de Ingeniería Agronómica, (ETSIA), Escuela Técnica Superior de Ingeniería de Telecomunicación (ETSIT). Cátedra Bancaja Jóvenes Emprendedores. Hero. Parque Tecnológico de Fuente Álamo. Grupo Aquiline.eng
dc.formatapplication/pdfeng
dc.language.isospaeng
dc.publisherUniversidad Politécnica de Cartagenaeng
dc.rightsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 3.0 España*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/*
dc.titleEvaluación precisa de iris en cavidades resonantes en guía de onda y aplicación a la caracterización dieléctrica de materialeseng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleeng
dc.subjectGuía de ondaeng
dc.subjectIriseng
dc.subjectSimulador electromagnéticoeng
dc.subjectCST Microwave Tool Companyeng
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10317/2536
dc.contributor.investgroupGrupo de Electromagnetismo y materia (GEM)eng
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesseng


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