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Bonding structure and hydrogen content in silicon nitride thin films deposited by the electron cyclotron resonance plasma method | 535 |
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Bonding structure and hydrogen content in silicon nitride thin films deposited by the electron cyclotron resonance plasma method | 0 | 0 | 13 | 39 | 1 | 4 | 0 |
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Países con más visitas
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Estados Unidos | 284 |
Alemania | 57 |
Irlanda | 53 |
Finlandia | 21 |
Suecia | 17 |
Rusia | 16 |
España | 14 |
Francia | 12 |
Canadá | 7 |
China | 5 |
Ciudades con más visitas
Total | |
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Ashburn | 151 |
Dublin | 51 |
Ann Arbor | 38 |
Helsinki | 13 |
Los Angeles | 10 |
Mountain View | 10 |
Murcia | 6 |
Cartagena | 5 |
New York | 5 |
Ulyanovsk | 5 |
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