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dc.contributor.authorBueno Delgado, María Víctoria 
dc.date.accessioned2011-09-08T08:12:57Z
dc.date.available2011-09-08T08:12:57Z
dc.date.issued2011-05-27
dc.identifier.citationBUENO DELGADO, María Victoria. Estudio de los factores que degradan el rendimiento de los sistemas de identificación por radiofrecuencia pasivos. En IV Jornadas de introducción a la investigación de la UPCT, mayo 2011, nº 4, 106-108 p. ISSN:1888-8356eng
dc.identifier.issn1888-8356
dc.description.abstractEn este trabajo se presenta un estudio sobre los factores que degradan el rendimiento de los sistemas de identificación por radiofrecuencia pasivos y las soluciones que propone la comunidad cientifica. Se analizan las limitaciones impuestas por los estándares y regulaciones, los factores fisicos y del entorno y las limitaciones hardware y software. El estudio parte del caso de estudio de la implantación de un sistema RFID pasivo en un supermercado o entorno similar.eng
dc.description.sponsorshipCentro Universitario de la Defensa. Escuela de Turismo de Cartagena. Escuela Técnica Superior de Ingeniería Industrial UPCT. Escuela Técnica Superior de Ingeniería de Telecomunicación (ETSIT). Escuela de Ingeniería de Caminos y Minas (EICM). Escuela de Arquitectura e Ingeniería de Edificación (ARQ&IDE). Parque Tecnológico de Fuente Álamo. Navantia. Campus Mare Nostrumeng
dc.formatapplication/pdf
dc.language.isospaeng
dc.publisherUniversidad Politécnica de Cartagenaeng
dc.rightsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 3.0 España*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/*
dc.titleEstudio de los factores que degradan el rendimiento de los sistemas de identificación por radiofrecuencia pasivoseng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleeng
dc.subjectIdentificación por radiofrecuencia (RFID)eng
dc.subjectRuido electromagnéticoeng
dc.subjectSistemas RFIDeng
dc.subjectMecanismos de control acceso al medio (MAC)eng
dc.subjectColisiones lector-tageng
dc.subjectColisiones lector-lectoreng
dc.subjectEstándar EPCglobal Networkeng
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10317/1758
dc.contributor.investgroupGrupo de Ingeniería Telemáticaeng


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